PMDL-2.5D线扫相位偏折系统

 

产品介绍

通过连续高速投影带有正弦相位信息的条纹图案, 生成符合缺陷检测用途的多种图像。

  ● 更适合高反光表面:

         利用镜面反射原理,消除产品表面纹理特征和随机光照不均的影响,突显以往无法成像的微小缺陷;

  ● 输出多种图像:

         包含漫反射、镜面反射、光泽比、形状图、标准图等计算图像,实现产品凹凸形状、微小缺陷的分层成像;

  ● 线阵扫描:

          可对圆柱、卷材、等连续高反光材料,实现最高220kHz的高速均匀扫描成像。 

 

 

产品应用        

 

胶水与背景均为黑色时,常规成像对比度较低,通过相位偏折系统的镜面反射成像 ,能够稳定突显高反光、高对比度的胶路特征。

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