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리튬 전극 조각 분할 공정의 좁은 공간, 빠른 작동 속도 및 높은 검출 정확도 요구 사항에 대한 문제를 해결하기 위해 INSNEX 은 고객과 협력하여 7 그룹 CIS 매크로 카메라를 기반으로 시각 검출 솔루션을 만들었습니다.시간 분할 스트로브 + 고광도 확산 스트립 광, 비 왜곡 매크로 이미징 및 최소화 설치 및 디버깅의 세 가지 기술을 통해 단일 스테이션 편향 교정, 폭 측정 및 결함 검출을 실현하여 분할 기계의 컴팩트한 공간에 효과적으로 적응합니다.이 솔루션은 막 영역, 홈, 세라믹 및 기타 영역 결함을 명확하게 표시하고 측정 정확도와 시스템 안정성을 향상시키고 장비 개조 및 운영 및 유지 보수 어려움을 줄이며 리튬 전극 패널의 고속 및 고정밀 온라인 검출을위한 신뢰할 수있는 지원을 제공합니다.
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전력 배터리 극판의 광폭 코팅 테스트에서 "다중 카메라 스플라이스 오차가 크고 복잡한 디버깅, 미세 결함이 쉽게 누락되고 높은 운영 및 유지 보수 비용" 과 같은 문제를 해결하기 위해 INSNEX 은 LineX2 흑백 CIS 매크로 카메라에 기반한 코팅 테스트 솔루션을 출시했습니다. "초광폭 제로 접합, 미크론 수준의 고정밀 이미징 및 All-in-One 통합 설계" 를 통해 최대 1.5m+ 넓은 범위를 달성하여 0.05mm 수준의 결함을 안정적으로 탐지하고 시스템 디버그 및 교체 프로세스를 크게 단순화합니다.이니셔티브가 도입 된 후, 고객의 결함 탐지 비율은 99 % 에서 99.8 % 로 향상되었으며, 전문 시각 디버깅 인력 수요는 60 % 를 줄이고 장비 OEE 은 15 % 를 향상시켜 코팅 라인의 탐지 정확도, 생산 효율성 및 운영 및 유지 보수 효율성을 효과적으로 향상시킵니다.
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배터리의 핵심 안전 구성 요소로서 리튬 다이어프램은 작은 결함 탐지, 생산 속도 및 탐지 안정성에 대한 엄격한 요구 사항을 제시합니다.전통적인 라인 어레이 카메라의 왜곡, 속도와 해상도의 어려운 균형, 오염 오프셋 및 설치 공간 제한 등에 대한 문제를 해결하기 위해 INSNEX 은 CIS 매크로 카메라를 기반으로하는 다이어프램 검출 솔루션을 출시했습니다. * * 렌즈가없는 비틀림, 고속 스캐닝, 고도로 통합 된 오염 방지 및 지진 및 가벼운 설치 * * 등의 장점으로, 코팅 기계, 절단 기계, 복원 기계 등 생산 링크에 적응할 수 있으며, 다이어프램 결함의 고속, 고정밀도 온라인 검출을 실현할 수 있습니다.이 솔루션은 ** 결함 탐지 비율 ≥ 99.9 %, 수동 재검사 시간 감소 90 %, 검사 효율성 향상 300 % ** 을 달성 할 수 있으며 결함 이미지 저장 추적 및 빠른 변환을 지원하여 다이어프램 기업이 생산 효율성, 제품 품질 및 생산 라인 자동화 수준을 향상시킬 수 있도록 지원합니다.
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2026 년 3 월 4 - 6 일, INSNEX 은 서울 COEX 에서 InsWorks 소프트웨어와 LineX 매크로 카메라 시리즈를 선보였다.
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기존 카메라의 낮은 검사 효율, 렌즈 왜곡으로 인한 정밀도 저하, 복잡한 구조와 높은 비용을 해결하기 위해 INSNEX는 주요 PCB 장비 제조업체에 3600dpi LineX CIS 매크로 비전 측정·검사 솔루션을 제공했습니다. 7μm/14μm 해상도, 656mm의 넓은 촬영 폭과 1:1 무왜곡 이미징으로 PCB의 홀 위치와 직경, 선폭과 선간격, 외형 치수를 정밀하게 측정합니다. 소형 CIS 구조로 기존 라인 스캔 또는 에어리어 스캔 카메라와 렌즈 구성을 대체하여 장비를 단순화했습니다. 도입 후 측정 효율이 10배 이상 높아지고 장비 복잡도와 제조 비용이 줄어, PCB 측정 장비의 고효율·고정밀·소형화를 지원합니다.
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INSNEX는 리튬 배터리 권취 공정의 좁은 공간, 고속 운전, 복잡한 전극 결함 및 높은 정밀도 요구를 해결하기 위해 주요 제조업체에 소형 매크로 비전 검사 시스템을 제공했습니다. 네 조의 고정밀 CIS 카메라 +AI 알고리즘으로 양극과 음극의 양면을 동시에 검사합니다. 동적 보정과 서브픽셀 영상 처리로 150m/min의 고속 생산에서 결함 검출률 ≥99.8%, 오검출률 ≤0.1%를 달성하고, 세라믹 코팅 어긋남을 ±0.05mm 정밀도로 측정합니다. 좁은 공간에 간편하게 설치하고 빠르게 적용할 수 있으며 MES 데이터 연계를 지원하여, 일일 처리량을 40% 높이고 수동 샘플 검사 작업량을 80% 줄여 검사 효율과 제품 품질을 개선합니다.
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